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太陽能組件EL測試儀

描述 技術參數

型 號Model

EL500

備 注Remark

有效測試面積Effective test area

530mm×980mm

 

相機類型Camera type

紅外CCD+高清鏡頭

Infrared CCD+High Definition Lens

 

相機像素Camera pixel

200W

 

分辨率Resolution

 1920×1080

 

測試組件類型Solar panel type

單晶、多晶組件Mono and poly solar panel

 

電源輸出電壓Power output voltage

0~30V

 

電源輸出電流Power output current

0~9.5A

 

電源參數

Power

單相220V10A 最大加載電壓30V,最大加載電流10A

Single-phase 220V10A,Maximum loading voltage 30V,Maximum loading current 10A

 

曝光時間

Exposure time

34.375us~2252.765ms

 

使用時間

Monitor point

產品層壓前、層壓后皆可

Before and after lamination

 

應用范圍Detection ability

檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵等電池異?,F象 Crack,Black Spot,Mixed Wafers,Process Defect,Cold Solder Joint.

 

型 號Model

EL500

備 注Remark

有效測試面積Effective test area

530mm×980mm

 

相機類型Camera type

紅外CCD+高清鏡頭

Infrared CCD+High Definition Lens

 

相機像素Camera pixel

200W

 

分辨率Resolution

 1920×1080

 

測試組件類型Solar panel type

單晶、多晶組件Mono and poly solar panel

 

電源輸出電壓Power output voltage

0~30V

 

電源輸出電流Power output current

0~9.5A

 

電源參數

Power

單相220V10A 最大加載電壓30V,最大加載電流10A

Single-phase 220V10A,Maximum loading voltage 30V,Maximum loading current 10A

 

曝光時間

Exposure time

34.375us~2252.765ms

 

使用時間

Monitor point

產品層壓前、層壓后皆可

Before and after lamination

 

應用范圍Detection ability

檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵等電池異?,F象 Crack,Black Spot,Mixed Wafers,Process Defect,Cold Solder Joint.

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